光耦參數(shù)測(cè)試儀型號(hào):JFY3010A
JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀詳細(xì)介紹 ※概述: JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀,是一種專(zhuān)門(mén)用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀(guān)、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠(chǎng)家或電子元件供應(yīng)商來(lái)料檢測(cè)。 ※ 測(cè)量元件類(lèi)型:三管類(lèi)型4腳 6腳光耦 ※ 測(cè)量參數(shù):
參數(shù)指標(biāo)表:
參數(shù)項(xiàng)
測(cè)試參數(shù)
測(cè)試條件設(shè)置
輸入正向壓降(VF)
0-2.000V
0-400MA
耐壓(BVCEO)
0-1200V
0-2.000MA
傳輸比(CTR)
0-3000
VCE:0-20V IC:0-2.000A
飽和壓降(Vsat)
IF:0-400MA IC:0-2.00A
蘇經(jīng)理
18910534055
18910554055